針對RoHS檢測設計開(kāi)發(fā);測量貴金屬如金、銀、鉑等效果甚佳;分析測量微量有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br ;提供專(zhuān)業(yè)玩具安全檢測,亦可用于測量鍍層厚度和全元素分析.
更新時(shí)間:2025-07-27
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采用上先進(jìn)的由美國生產(chǎn)的半導體制冷的型探測器,電制冷,無(wú)需液氮制冷,可常溫保存,使用方便。
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EDX-Pocket-Ⅱ是一款專(zhuān)為戶(hù)外、大型工程、移動(dòng)檢測研制開(kāi)發(fā)的全新XRF。只需片刻,它即可實(shí)現對RoHS指令中元素的全面測量。這款從醞釀開(kāi)發(fā)都產(chǎn)品問(wèn)世歷時(shí)幾載的全新理念儀器,滿(mǎn)載著(zhù)天瑞人凝重的智慧和心血。
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Thick 800 X熒光光譜儀主要針對大件部件的鍍層厚度和含量的無(wú)損、快速測定,采用上照式,通過(guò)三維的移動(dòng)和激光定位,實(shí)現對尺寸范圍較大部件進(jìn)行鍍層厚度和含量的點(diǎn)測量.
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